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取扱製品 > スタンドアロン測定機 > SpecScan2000 2001

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きょう雑物測定機 SpecScan2000/2001 / Apogee製

Apogee Systems,USAで開発されたスキャナー方式の紙/パルプ/板紙用きょう雑物測定器「スペックスキャン」は、グレイスケール像測定方式によるダートカウンターで、測定シート自体の解析もできる汎用性の高い測定器です。
測定できるきょう雑物の大きさはJISに準拠するものから、0.001mm2程度の微細なインク粒子迄、簡単な操作で、再現性よく測定できます。

SS2000
[SS2000システム]

特長

  • 最適しきい値の設定が容易で、目視との相関が高い。
  • 最高解像度1600dpiまで対応。
  • オートドキュメントフィーダーによる複数シートの自動測定。
  • グレイイメージ法により、きよう雑物の拡大/疑似色による詳細チェック/グレイスケールヒストグラム解析。
  • データベースマネージャーが付属し、Excelへの出力等が可能。
  • 2005年08月より、ソフトウエアの日本語版を導入時に選択可能。
システム構成例
[システム構成例]

データ出力例

測定例等
[測定例等]


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